Neškodné pro živé organismu, menší množství těchto částic však může vytvořit dostatečné množství energie, aby narušilo činnost mikroelektronických obvodů v osobních zařízeních uživatele. Takový zkrat se nazývá „single event upset,“ jednorázový pád, zkráceně SEU.
Během SEU částice změní jednotlivé bity dat uložených v paměti čipu. Důsledkem může být něco tak triviálního, jako je změna jediného pixelu ve fotografie, nebo naopak tak vážného, jako je selhání letounu (studie k dispozici pouze anglicky).
Právě SEU pravděpodobně mohla za chybu v elektronickém volebním systému v obci Schaerbeekm v Belgii v roce 2003. Změna bitu v elektronickém volebním stroji způsobila 4 096 hlasů navíc pro jednoho z kandidátů. Chyby si někdo všiml jen proto, že stroj dal kandidátovi více volebních hlasů, než bylo vůbec možné.
„Je to opravdu velký problém, navíc je veřejnosti neznámý a prakticky neviditelný,“ říká Bharat Bhuva, člen výzkumné skupiny vlivů radiačního záření na Vanderbiltově Univerzitě. Skupina byla založena v roce 1987 specificky na zkoumání vlivu radiace na elektronické systémy. Původně se tým soustředil na vojenské a vesmírné záležitosti, od roku 2001 však své řady rozšířil a nyní studuje vliv radiace i na spotřebitelskou elektroniku.
Bhuva, profesor elektrického inženýrství na univerzitě, o SEU uspořádal přednášku v Bostonu.
Přes některé působivé a potenciálně velmi nebezpečné ukázky je výskyt SEU velmi vzácný. S tím, jak se zvyšuje počet tranzistorů v nových elektronických systémech, se však zvyšuje i pravděpodobně selhání zařízení zapříčiněného kosmickým zářením.
Výrobci polovodičů si zřejmě již problému povšimli a pracují na marginalizaci problému. V roce 2008 například inženýři firmy Fujitsu vystoupali na Havajskou sopkou, aby lépe pochopili, jakým způsobem kosmické záření způsobuje chyby v počítačích.
PŘEDPLATNÉ
ČLÁNKY DO MAILU