Testy vyvinuli výzkumníci na University of California a Cornell University, kteří vytvořili speciální software dovolující testovat rozdílné chování flash pamětí při některých opearcích. „To je přitom pro každý čip jedinečné, tvrdí Steven Swanson, profesor na prvně jmenované univerzitě a šéf tamější Non-Volatile Systems Laboratory. Pokud by byl stejný test proveden už v továrně zmíněných čipů, mohly by například prodejní řetězce získat jistotu, že se jedná o originální výrobek. Swanson předpokládá, že by výrobce čipů mohl vytvořit databázi chování jednotlivých čipů, k nimž by potom měli zájemci přístup.
Systém využívá funkce označované jako PUF (physically unclonable function), jež jsou pro každý čip jedinečné. Jedním z PUF je například tzv. Program Disturb, který zjednodušeně zkoumá, jak ovlivní zápis do paměťové buňky ty okolní v závislosti na tlouštce bariéry mezi buňkami a na dalších parametrech.
Podle některých analytiků se jedná o poměrně užitečný nástroj. „V současnosti se v prodejním kanále nalézá spousta padělků,“ říká Roger Kay ze společnosti Endpoint Technology Associates. „Detekovat je je poměrně obtížné, protože zpravidla má kvůli diverzitě své nabídky nasmlouvány kontrakty s více dodavateli.“
Významné je podle pozorovatelů i to, že těmito testy by mohlo být možné určit také to, zda nedošlo například k záměně zařízení, jež uvedené čipy využívá. To je zajímavé především pro státní orgány, které si tak mohou zjistit, zda například telefon, který jejich vysoký úředník použív, je opravdu tím, který mu byl originálně přidělen, a nikoliv ten, jenž mu mohl být zaměněn například kvůli špionáži.
Test komponent flash pamětí tak nabízí určitou autentizační techniku pro celé uživatelské zařízení, která navíc nevyžaduje žádný zásah do hardwaru přístroje.
PŘEDPLATNÉ
ČLÁNKY DO MAILU